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MiniTest1100/2100/3100/4100
詳細信息| 詢價留言品牌：德國EPK 加工定制：否 型號：MiniTest1100 類型：鍍層 測量范圍：0-50 mm 顯示方式：數顯 電源電壓：9 V 外形尺寸：260x160x70 mm 顯示方式：數顯 上海鼎徵儀器儀表設備有限公司
謝文清
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Q Q：---上海市閘北區(qū)恒通路360號20樓A18室
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上海鼎徵儀器儀表設備有限公司代理德國EPK涂層測厚儀
德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數據處理功能；
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；
可使用一片或二片標準箔校準。
MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀功能
型號 1100210031004100MINITEST 存儲的數據量 應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數) 111099每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統(tǒng)計，可設寬容度極限值) -11099可用各自的日期和時間標識特性的組數 -1500500數據總量 1100001000010000MINITEST統(tǒng)計計算功能 讀數的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar -√√√讀數的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk --√√組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar --√√組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk --√√存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據 ---√分組打印以上顯示和存儲的數據和統(tǒng)計值 --√√顯示并打印測量值、打印的日期和時間 -√√√其他功能 透過涂層進行校準(CTC) -√√√在粗糙表面上作平均零校準 √√√√利用計算機進行基礎校準 √√√√補償一個常數(Offset) --√√外設的讀值傳輸存儲功能 -√√√保護并鎖定校準設置 √√√√更換電池是存儲數值 √√√√設置極限值 --√√公英制轉換 √√√√連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別***大***小值 --√√連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數 --√√浮點和定點方式數據傳送 √√√√組內單值延遲顯示 -√√√連續(xù)測量模式中顯示***小值 √√√√
可選探頭參數(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇***適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
探頭量程低端
分辨率誤差***小曲率
半徑(凸/凹)***小測量
區(qū)域直徑***小基
體厚度探頭尺寸磁
感
應
法F050-500μm0.1μm±(1%±0.7μm)1/5mm3mm0.2mmφ15x62mmF1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mmF1.6/900-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面/6mm5mm0.5mmφ8x170mmF30-3000μm0.2μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mmF100-10mm5μm±(1%±10μm)5/16mm20mm1mmφ25x46mmF200-20mm10μm±(1%±10μm)10/30mm40mm2mmφ40x66mmF500-50mm10μm±(3%±50μm)50/200mm300mm2mmφ45x70mm兩
用FN1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mmF0.5mm
N50μmφ15x62mmFN1.6P0-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面30mmF0.5mm
N50μmφ21x89mmFN20-2000μm0.2μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mmF0.5mm
N50μmφ15x62mm電
渦
流
法N020-200μm0.1μm±(1%±0.5μm)1/10mm2mm50μmφ16x70mmN.08Cr0-80μm0.1μm±(1%±1μm)2.5mm2mm100μmφ15x62mmN1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm2mm50μmφ15x62mmN1.6/900-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面/10mm5mm50μmφ13x170mmN100-10mm10μm±(1%±25μm)25/100mm50mm50μmφ60x50mmN200-20mm10μm±(1%±50μm)25/100mm70mm50μmφ65x75mmN1000-100mm100μm±(1%±0.3mm)100mm/平面200mm50μmφ126x155mmCN0210-200μm0.2μm±(1%±1μm)平面7mm無限制φ17x80mm注： F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
探頭圖示
FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度F05
0～500μm,φ3mm
磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)F10
0～10mm,φ20mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等F20
0～20mm,φ40mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等F50
0～50mm,φ300mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層N02
0～200μm,φ2mm
非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)N10
0～10mm,φ50mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等N20
0～20mm,φ70mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等N100
0～100mm,200mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等CN02
10～200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板
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