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Minitest1100|Minitest1100
詳細(xì)信息品牌：德國(guó)EPK 加工定制：否 型號(hào)：Minitest1100 類型：鍍層 測(cè)量范圍：0-50 mm 顯示方式：數(shù)顯 電源電壓：9 V 外形尺寸：260x160x70 mm 顯示方式：數(shù)顯 上海鼎徵儀器儀表設(shè)備有限公司
謝文清
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Q Q：---上海市閘北區(qū)恒通路360號(hào)20樓A18室
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上海鼎徵儀器儀表設(shè)備有限公司代理德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀
德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn)：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號(hào)均可配所有探頭；
可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測(cè)厚儀功能
型號(hào) 1100210031004100MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量 應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) 111099每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)，可設(shè)寬容度極限值) -11099可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) -1500500數(shù)據(jù)總量 1100001000010000MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar -√√√讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk --√√組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar --√√組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk --√√存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) ---√分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值 --√√顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間 -√√√其他功能 透過(guò)涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC) -√√√在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn) √√√√利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn) √√√√補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(Offset) --√√外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能 -√√√保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置 √√√√更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值 √√√√設(shè)置極限值 --√√公英制轉(zhuǎn)換 √√√√連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量，通過(guò)模擬柱識(shí)別***大***小值 --√√連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) --√√浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送 √√√√組內(nèi)單值延遲顯示 -√√√連續(xù)測(cè)量模式中顯示***小值 √√√√
可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇***適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
探頭量程低端
分辨率誤差***小曲率
半徑(凸/凹)***小測(cè)量
區(qū)域直徑***小基
體厚度探頭尺寸磁
感
應(yīng)
法F050-500μm0.1μm±(1%±0.7μm)1/5mm3mm0.2mmφ15x62mmF1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mmF1.6/900-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面/6mm5mm0.5mmφ8x170mmF30-3000μm0.2μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mmF100-10mm5μm±(1%±10μm)5/16mm20mm1mmφ25x46mmF200-20mm10μm±(1%±10μm)10/30mm40mm2mmφ40x66mmF500-50mm10μm±(3%±50μm)50/200mm300mm2mmφ45x70mm兩
用FN1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mmF0.5mm
N50μmφ15x62mmFN1.6P0-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面30mmF0.5mm
N50μmφ21x89mmFN20-2000μm0.2μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mmF0.5mm
N50μmφ15x62mm電
渦
流
法N020-200μm0.1μm±(1%±0.5μm)1/10mm2mm50μmφ16x70mmN.08Cr0-80μm0.1μm±(1%±1μm)2.5mm2mm100μmφ15x62mmN1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm2mm50μmφ15x62mmN1.6/900-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面/10mm5mm50μmφ13x170mmN100-10mm10μm±(1%±25μm)25/100mm50mm50μmφ60x50mmN200-20mm10μm±(1%±50μm)25/100mm70mm50μmφ65x75mmN1000-100mm100μm±(1%±0.3mm)100mm/平面200mm50μmφ126x155mmCN0210-200μm0.2μm±(1%±1μm)平面7mm無(wú)限制φ17x80mm注： F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
探頭圖示
FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測(cè)頭， 特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度F05
0～500μm,φ3mm
磁性測(cè)頭，適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測(cè)頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測(cè)頭
可用于較厚的覆層F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測(cè)頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量
量程低端分辨率很高(0.1μm)F10
0～10mm,φ20mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等F20
0～20mm,φ40mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等F50
0～50mm,φ300mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層N02
0～200μm,φ2mm
非磁性測(cè)頭，尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量
量程低端分辨率很高(0.1μm)N10
0～10mm,φ50mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等N20
0～20mm,φ70mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等N100
0～100mm,200mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等CN02
10～200μm,φ7mm
用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板
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